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Avec l'aide d’une méthode brevetée de calibration absolue spectrale et photométrique (voir section plus bas) développée par l’IRDEP, il est possible de déterminer le nombre absolu de photons émis par chaque point de la surface d'un échantillon, et ce, pour chaque longueur d'onde. Cette caractéristique unique permet aux chercheurs d'obtenir une carte de la séparation du quasi-niveau de fermi (Δμeff) de la cellule, directement à partir des images de PL. La séparation du quasi-niveau de fermi est d'un grand intérêt car elle est directement liée à la tension maximale pouvant être atteinte dans une cellule et aux courants de saturation. FIG. 1 présente la carte obtenue de Δμeff/q [1,2]. La séparation du quasi-niveau de fermi mesurée est Δμeff = 1,1676 ± 0,010 eV, avec une petite baisse près du contact électrique (ligne bleue verticale au milieu de la figure 1) et des limites extérieures de la cellule. Les résultats étant en accord avec les multiples études trouvées dans la littérature sur le GaAs, les chercheurs sont maintenant confiants quant à l'exactitude de leur méthode de calibration absolue et les techniques hyperspectrales employées.
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