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State-of-the-art electron microscopy (e.g. TEM, SEM, ESEM), X-ray spectroscopy (e.g. SAXS, EDX, WDX, XRF, XPS/ESCA, XANES), mass spectrometry (e.g. ToF-SIMS), optical methods (e.g. DLS, fluorescence spectroscopy) and more are available.
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Nanopartikel charakterisieren wir hinsichtlich ihrer partikel-spezifischen Eigenschaften u.a. mittels bildgebender (z.B. TEM, SEM, ESEM), röntgenspektroskopischer (z.B. SAXS, EDX, WDX, XRF, XPS/ESCA, XANES), massenspektrometrischer (z.B. ToF-SIMS) oder optischer (z.B. DLS, Fluoreszenzspektroskopie) Messverfahren.
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