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Los dos procedimientos más utilizados para la medición de capas delgadas son la reflectometría y la elipsometría. Ambos consisten en procedimientos de medición óptica sin contacto, en los que la luz reflejada por la muestra se utiliza para medir el grosor de la capa.
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Les deux procédés les plus courants pour la mesure de couches minces sont la réflectométrie et l'ellipsométrie. Ces deux procédés de mesure optique, sans contact, utilisent la lumière réfléchie par l'échantillon pour mesurer l'épaisseur de couche sans contact.
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Die beiden gebräuchlichsten Verfahren zur Dünnschichtmessung sind die Reflektometrie und die Ellipsometrie. Bei beiden handelt es sich um optische, kontaktlose Messverfahren, bei denen das von der Probe reflektierte Licht genutzt wird, um die Schichtdicke berührungslos zu messen.
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I due metodi più comuni per la misurazione delle pellicole sottili sono la riflettometria e l'ellissometria. Si tratta di due procedimenti di misurazione ottica eseguiti senza contatto che utilizzano la luce riflessa dal campione per misurare lo spessore dello strato senza toccarlo.
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