bse – -Translation – Keybot Dictionary

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So-called secondary electrons (SE) enable the observation of surface topography with a lateral resolution down to few nanometers, whereas images produced by detection of elastically backscattered electrons (BSE) present a material contrast.
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Für die Untersuchung der Festkörperoberflächen mit hoher Ortsauflösung auf der Mikro- und Nanometerskala wird ein Umwelt- Rasterelektronenmikroskop (ESEM) angewendet. Mit einem fokussierten Elektronenstrahl wird die Probenoberfläche abgerastert. An jedem Punkt entstehen unterschiedliche Signale die detektiert jeweils zu einem Bild mit entsprechendem Informationsgehalt beitragen. Die Sekundärelektronen (SE) ermöglichen die Darstellung der Oberflächentopographie mit einer lateralen Auflösung von einigen Nanometern, während die Rückstreuelektronen (RE) ein Materialkontrastbild liefern. Die Detektion der entstehenden charakteristischen Röntgenstrahlung ermöglicht die Bestimmung der Atomkonzentrationen auf Probenoberflächen im Mikrometermaßstab (energiedispersive Röntgenspektroskopie, EDX).
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